LiteScope AFM-SEM
同步聯(lián)用技術
在微觀世界的探索中，原子力顯微鏡(AFM)與掃描電子顯微鏡(SEM)一直是科學家們重要的工具。然而，傳統(tǒng)技術中兩者往往獨立運行，難以在同一時間、同一點位對樣品進行綜合分析。如今，LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)以創(chuàng)新，成功打破了這一局限，為微觀研究帶來了全新的視角和可能性。
01.革命性的同步聯(lián)用技術
LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術的核心在于其特殊的同步聯(lián)用設計。它將 AFM 的高分辨率表面形貌分析能力與 SEM 的強大成像功能美結(jié)合，實現(xiàn)了在 SEM 內(nèi)部原位條件下對樣品的同步分析。這種設計不僅確保了樣品分析的同步性、同地性和同條件性，還通過 SEM 畫面實時觀測探針與樣品的相對位置，為探針提供導航，實現(xiàn)了對感興趣區(qū)域的精準定位。無論是復雜的樣品結(jié)構(gòu)，還是對精度要求很高的研究，LiteScope 都能輕松應對。
02.
兼容主流電鏡品牌，也支持定制化服務
LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術(通用版)，兼容賽默飛世爾、TESCAN、蔡司、日立、JEOL 等主流品牌 SEM系統(tǒng)及其配件，其他品牌電鏡亦可定制適配。這種廣泛的兼容性和定制化服務，使得 LiteScope 能夠滿足不同用戶的需求，輕松集成到現(xiàn)有的實驗室設備中。
LiteScope
原位樣品表征
03.
精準定位與高分辨率成像
在樣品分析中，精準定位是獲取可靠數(shù)據(jù)的關鍵。LiteScope 利用 SEM 導航 AFM 尖端到感興趣區(qū)域，實現(xiàn)了快速且精準的定位。通過在樣品上保持電子束指向 AFM 尖端附近，并保持恒定偏移，兩個顯微鏡的數(shù)據(jù)可以在同一時間、同一地點和相同條件下獲取。這種設計不僅保證了數(shù)據(jù)的同步性，還實現(xiàn)了高分辨率的成像效果。
04.
融合優(yōu)勢，拓展應用邊界
AFM 與 SEM 作為亞納米級樣品分析中應用廣泛且互補的兩大技術，其融合帶來的優(yōu)勢不言而喻。LiteScope 通過將 AFM 集成至 SEM 中，不僅保留了兩者各自的優(yōu)勢，還實現(xiàn)了超高效的工作流程，完成了傳統(tǒng) AFM 和 SEM 難以或無法實現(xiàn)的極限性能和復雜樣品分析?？商峁C械、電氣、磁學、光譜等多種測量模式，且能同-位置直接聯(lián)用 SEM 及 EDS 功能，同時獲取 AFM 與 SEM 數(shù)據(jù)，并將其無縫關聯(lián)。這種多模態(tài)的分析能力，為材料科學、納米技術、半導體、太陽能電池開發(fā)、生命科學等研究領域及工業(yè)應用提供了更好的分析可能性。
05.
先進的 CPEM+ 技術與高效工作流程
LiteScope 采用了尖端的相關探針和電子顯微鏡(CPEM)技術，這種硬件相關技術使得 SEM 和 AFM 數(shù)據(jù)能夠同時獲取，并自動無縫相關用戶可以同時進行 AFM 和 SEM 數(shù)據(jù)的多通道采集，實現(xiàn)圖像相關性精度。探針自動調(diào)優(yōu)和人工智能驅(qū)動的數(shù)據(jù)處理和校正技術，進一步提升了工作效率，使得整個工作流程更加快速和平滑。這種高效的工作方式，不僅節(jié)省了時間，還提高了數(shù)據(jù)的準確性和可靠性。
06.
豐富的應用領域與優(yōu)勢
• 在材料科學中，它可以對 1D/2D 材料、鋼鐵和金屬合金、電池、陶瓷、聚合物和復合材料等進行深入分析
• 在納米結(jié)構(gòu)研究中，F(xiàn)IB/GIS 改性表面、量子點、納米結(jié)構(gòu)薄膜、納米圖案、納米線等都是其研究對象
• 在半導體領域，集成電路、太陽能電池、失效分析、摻雜可視化、電流泄漏定位等應用都能從中受益
• 在生命科學領域，細胞生物學、海洋生物學、蛋白質(zhì)技術等研究也能借助 LiteScope 獲得更深入的洞察。
07.
豐富靈活的選配功能
LiteScope 還提供了豐富的選配件，如納米壓痕模塊、NenoCase 與數(shù)碼相機、樣品旋轉(zhuǎn)模塊等，進一步拓展了其應用范圍和靈活性。
納米壓痕模塊：能夠在使用超高倍數(shù)掃描電子顯微鏡觀察樣品的同時進行微機械實驗，并利用 LiteScope 以亞納米級分辨率對壓痕樣品進行分析。
NenoCase 與數(shù)碼相機：在環(huán)境條件或不同氣氛下將 LiteScope 作為獨立 AFM 使用，通過數(shù)碼相機精確導航探針。
樣品旋轉(zhuǎn)模塊：適用于 FIB 后進行 AFM 分析。此外還允許同時安裝多個樣品實現(xiàn)在不打開 SEM 腔室的情況下即可對多個樣品進行測試。
LiteScope AFM-SEM 同步聯(lián)用技術以其革命性的同步聯(lián)用設計、融合優(yōu)勢、先進的 CPEM+ 技術、精準定位與高分辨率成像能力、豐富的應用領域與優(yōu)勢、強大的軟件支持與靈活的選配件，以及兼容主流電鏡品牌的特性，為微觀世界的探索帶來了一場技術革命。
它不僅提高了分析效率，降低了成本，還為科學研究和工業(yè)應用提供了更深入、更全面的分析手段。無論是在材料科學、納米技術、半導體、太陽能電池開發(fā)，還是在生命科學等領域，LiteScope 都將成為研究人員和工程師們重要的得力助手，助力在微觀世界中取得更多的突破和發(fā)現(xiàn)。如您對此解決方案感興趣，歡迎咨詢我們。
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