Phenom Particle Metric顆粒測試

Phenom Particle Metric顆粒測試

Phenom World BV 顆粒測試系統(tǒng)Phenom Particle Metric

—— 研究顆粒和粉末的強(qiáng)大工具

ParticleMetric顆粒測試系統(tǒng)，以快、簡便的方式實(shí)現(xiàn)顆粒的可視化分析，是微觀顆粒分析技術(shù)的一大進(jìn)步。快速、易用和超清晰圖像質(zhì)量的Phenom飛納掃描電鏡，加上Particle Metric顆粒系統(tǒng)的顆粒圖像分析功能，為用戶提供了分析顆粒和粉末試樣的強(qiáng)大工具。

基于飛納掃描電鏡的顆粒分析解決方案ParticleMetric能夠使用戶根據(jù)需要，隨時(shí)獲取所觀測顆粒的面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比、充實(shí)度、伸長率、灰度等級、長軸、短軸長度（橢圓）、凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗锏葦?shù)據(jù)，終實(shí)現(xiàn)ParticleMetric加速顆粒物分析速度、提升產(chǎn)品質(zhì)量的目的。

Phenom Particle Metric顆粒測試的功能

1.     可進(jìn)行以下顆粒分析

l  顆粒尺寸范圍：100nm ~ 0.1mm

l  顆粒探測速度：高達(dá)1000個(gè)/分鐘

l  顆粒測量屬性：大小、形狀、數(shù)量

2.     可以測量的顆粒參數(shù)

l  面積、當(dāng)量直徑、表面積、外接圓直徑、比表面積、周長、寬高比

l  充實(shí)度、伸長率、灰度等級、長軸長度和短軸長度（橢圓）

l  凸殼體、重心、像素點(diǎn)數(shù)、凸?fàn)钗铩?/p>

3.     可以提供的圖形顯示

l  按數(shù)量或體積的線性、對數(shù)、雙對數(shù)點(diǎn)狀圖

l  任何參數(shù)的散點(diǎn)圖

l  單個(gè)顆粒的SEM圖像

4.     可以提供的圖形輸出

l  Word版本docx格式的報(bào)告，TIFF格式的圖像

l  CSV文件，離線分析的項(xiàng)目文件（.PAME）Pro Suite的一部分

飛納掃描電鏡顆粒系統(tǒng)ParticleMetric軟件的優(yōu)勢

1.      加載ParticleMetric軟件的飛納臺式掃描電鏡能夠輕松生成并分析圖像，方便用戶采集超細(xì)顆粒的形貌信息和顆粒的尺寸數(shù)據(jù)；

2.      全自動的飛納掃描電鏡顆粒測試系統(tǒng)ParticleMetric軟件測量可以實(shí)現(xiàn)超出光學(xué)顯微鏡、更好景深的視覺效果，為用戶提供顆粒物的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、研發(fā)和質(zhì)量控制方面的細(xì)節(jié)數(shù)據(jù)；

3.      ParticleMetric軟件生成的柱狀圖、散點(diǎn)圖可以作為報(bào)告的內(nèi)容按照格式輸出。任何柱狀圖都可以按照被測顆粒的不同屬性，生成數(shù)量柱狀圖和體積柱狀圖。散點(diǎn)圖可以按照任何一項(xiàng)顆粒的特性生成，以便揭示相關(guān)趨勢。

4.     直接由Phenom獲取圖像，識別并確認(rèn)諸如破損顆粒、附著物和外來顆粒，關(guān)聯(lián)顆粒物的特征，比如直徑、充實(shí)度、縱橫比和凹凸度

5.     便捷的操作提升了工作效率并使計(jì)劃表簡單化和可視化

6.     無限制的圖像采集，可輕松存儲于網(wǎng)絡(luò)或優(yōu)盤，便于共享、交流或以后參考

7.     Phenom的易用性和對環(huán)境的良好適應(yīng)力，用戶可以將試樣程度視覺化

8.     附有高清圖片的統(tǒng)計(jì)學(xué)數(shù)據(jù)。